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J-GLOBAL ID：200903021879058190

集積回路の試験装置及び試験方法並びに集積回路の設計装置及び設計方法

Inventor： 徳 永 千佳子
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996077925
Publication number (International publication number)：1997264938
Application date： Mar. 29, 1996
Publication date： Oct. 07, 1997
Summary：

【要約】【目的】 テストベクタ自動生成時に未検出となった箇所を考慮することにより、検出不能な製造時不良を消滅し信頼性を向上する。【解決手段】 集積回路の機能動作及び接続関係を示すデータを入力し、入力したデータにより動作及び接続の特性を解析する実動作デバイスデータ解析部と、その解析結果より各種条件を鑑みて、前記集積回路の故障を検出するためのテストベクタを生成するテストベクタ生成部に入力される重み付け情報としての、テストベクタ自動生成の優先順位を示す情報を生成する、重み付け情報計算部と、を有し、製造時不良を検出する際に効率的なテストベクタを生成可能とした、集積回路の試験装置。

Claim (excerpt)：

集積回路の機能動作及び接続関係を示すデータを入力し、入力したデータにより動作及び接続の特性を解析する実動作デバイスデータ解析部と、その解析結果より各種条件を鑑みて、前記集積回路の故障を検出するためのテストベクタを生成するテストベクタ生成部に入力される重み付け情報としての、テストベクタ自動生成の優先順位を示す情報を生成する、重み付け情報計算部と、を有し、製造時不良を検出する際に効率的なテストベクタを生成可能とした、集積回路の試験装置。

IPC (3)：

G01R 31/3183 ,  G06F 17/50 ,  H01L 21/82

FI (4)：

G01R 31/28 Q ,  G06F 15/60 670 ,  H01L 21/82 T ,  H01L 21/82 C