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J-GLOBAL ID:200903021998437353
半導体基板
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴木 喜三郎 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991224176
Publication number (International publication number):1993062954
Application date: Sep. 04, 1991
Publication date: Mar. 12, 1993
Summary:
【要約】【目的】 新しい選択研磨法による薄膜半導体島形成用の、研磨のストッパーを提供すること。【構成】 半導体基板に関し、(1) 選択研磨法による薄膜半導体島の形成に、研磨のストッパーとしてダイアモンド膜を用いる事、および(2) 薄膜半導体島は、シリコン酸化膜によって(1)項のダイアモンド膜と絶縁する事、等である。【効果】 半導体薄膜の研磨精度を±10%以下、±1%程度の精度も可能な、新しい選択研磨法による薄膜半導体島形成用の、研磨のストッパーを提供できる。
Claim (excerpt):
選択研磨法による薄膜半導体島の形成には、研磨のストッパーとしてダイアモンド膜を用いた事を特徴とした半導体基板。
IPC (3):
H01L 21/304 321
, H01L 27/12
, H01L 29/784
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