Pat
J-GLOBAL ID:200903022013491398
データ処理システム及びデータ処理方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
合田 潔 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993230922
Publication number (International publication number):1994282459
Application date: Aug. 24, 1993
Publication date: Oct. 07, 1994
Summary:
【要約】【目的】本発明は、複合的な試験を行うフレームワーク/足場を提供する方法及びシステムを提案する。【構成】このシステムには試験プロセスを自動化し単純化する試験用ツールが含まれている。このシステムはネツトワーキング及びタスクの同時性を処理する。試験用の足場は柔軟性のあるテストドライバであり、このテストケースドライバを使用することにより、1つのホストについての機能検証試験又は数ダースのホストを含む大型のネツトワーク化したシステムレベルの統合試験を実行することができる。この試験用足場は大規模な試験環境の要求を満足するように設計されている。これらの環境を実行する能力によつて、一段と小規模な環境の処理も同様に可能となる。
Claim (excerpt):
階層的試験環境を提供するシステムにおいて、次々に結合し、それぞれが少なくとも1つのシナリオを有する連続的なレベルと、上記少なくとも1つのシナリオを表す少なくとも1つのデータフアイルと、上記少なくとも1つのデータフアイル内に格納されているデータに基づいて一段と高いレベルから一段と低いレベルを呼び出す手段とを具えることを特徴とするデータ処理システム。
IPC (2):
G06F 11/22 360
, G06F 15/16 450
Patent cited by the Patent: