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J-GLOBAL ID：200903022069602559

分析装置

Inventor：
大谷 良一

About 大谷 良一

, 
石橋 誠

About 石橋 誠


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝

, 
東芝電子管デバイス株式会社

About 東芝電子管デバイス株式会社


Agent (2)： 樺澤 襄 ,  樺澤 聡
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005311436
Publication number (International publication number)：2007121025
Application date： Oct. 26, 2005
Publication date： May. 17, 2007
Summary：
【課題】分析対象物12の形状の影響が少なく、分析精度が向上し、小形で、分析時の調整も容易にできる分析装置を提供する。【解決手段】レーザ光伝送用光ファイバ16で光学系ユニット13に伝送したパルスレーザ光Lは、分配反射ミラー27を透過し、集光レンズ群30にて集光して分析対象物12に照射する。パルスレーザ光Lの分析対象物12への照射にて放出される蛍光Fは、集光レンズ群30にて集光し、分配反射ミラー27にて反射する。分配反射ミラー27にて反射した蛍光Fは、蛍光伝送用光ファイバ17にて光学系ユニット13から蛍光測定器に伝送する。蛍光測定器で蛍光に基づいて分析対象物12に含まれる元素を定量する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
レーザ光を伝送するレーザ光伝送用光ファイバと、 前記レーザ光伝送用光ファイバで伝送するレーザ光を透過するとともにこのレーザ光の分析対象物への照射にて放出される蛍光を反射する分配手段、およびこの分配手段を透過したレーザ光を集光して前記分析対象物に照射させるとともにこの分析対象物からの前記蛍光を集光して前記分配手段に導光させる集光照射手段を有する光学系ユニットと、 前記分配手段で反射した蛍光を伝送する蛍光伝送用光ファイバと、 前記蛍光伝送用光ファイバで伝送する蛍光に基づいて前記分析対象物に含まれている元素を定量する分析手段と を具備していることを特徴とする分析装置。
IPC (1)：
G01N 21/64
FI (1)：
G01N21/64 Z
F-Term (9)：
2G043AA01 ,  2G043EA01 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043KA09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 元素分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-119326   Applicant：株式会社東芝
Cited by examiner (7)
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