Pat

J-GLOBAL ID：200903022102483269

発光分光分析装置

Inventor： 福井 勲 ,  佐々木 誠彦
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 岡田 和秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993069878
Publication number (International publication number)：1994281580
Application date： Mar. 29, 1993
Publication date： Oct. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 金属成分中の窒素や酸素などのガス成分元素を十分な感度で分析できるようにした発光分光分析装置を提供する。【構成】 分析対象元素が、窒素、酸素または水素であるときには、放電室1に不活性ガスとしてヘリウムガスを供給し、それ以外の元素であるときには、放電室1に不活性ガスとしてアルゴンガスを供給するように、切換手段25で不活性ガスの種類を切換えている。

Claim (excerpt)：

不活性ガスが供給される放電室内で試料を放電発光させ、その放射光を元素固有のスペクトル線に分光して分析する発光分光分析装置において、分析対象元素に応じて、前記放電室へ供給する前記不活性ガスの種類を切換える切換手段を設けたことを特徴とする発光分光分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-042340
  
• 特開昭62-017644
  
• 特開平1-311254
  
• 特開昭61-212747