Pat

J-GLOBAL ID：200903022140090726

呼気成分分析装置

Inventor： 田中 克之 ,  杉村 真理子 ,  翁長 一夫 ,  香田 弘史
Applicant, Patent owner： エフアイエス株式会社
Agent (2)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003305065
Publication number (International publication number)：2005077144
Application date： Aug. 28, 2003
Publication date： Mar. 24, 2005
Summary：

【課題】保持時間が同じ又は近接している時でもガス成分の種類を判別できる呼気成分分析装置を提供する。【解決手段】半導体ガスセンサからなりガス分離カラム1の排気側に順次現れる呼気ガスのガス成分を検出する検出器30と、呼気ガス中の検出対象の複数種のガス成分のリテンションタイム、複数種のガス成分に対する検出器30の検出出力のピーク波形、及び検出器30の検出出力の出力値に対応した各ガス成分の濃度データとが予め登録されたメモリ33aと、メモリ33aに登録されたデータをもとに、検出器30の検出出力に現れる1乃至複数のピークの各々にリテンションタイムが各ピークの出現時間に略等しいガス成分のピーク波形を照合することでガス種を識別し、検出器30の出力値に対応した各ガス成分の濃度データから当該ガス成分のガス濃度を測定する演算処理部33とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

ガス成分に応じて流動遅延を生じさせる部材を充填したガス分離カラムと、 該ガス分離カラムの吸気側からガス分離カラム内に呼気ガスを含むキャリアガスを供給する呼気ガス供給手段と、 半導体ガスセンサを用いて構成され、前記ガス分離カラムの排気側に設けられて、排気側に順次現れる呼気ガスのガス成分を検出する検出手段と、 呼気ガスに含まれる検出対象の複数種類のガス成分のリテンションタイム、複数種類の前記ガス成分の各々に対する検出手段の検出出力のピーク波形、及び検出手段の検出出力の出力値に対応した前記各ガス成分の濃度データが予め登録された記憶手段と、 記憶手段に登録されたデータをもとに検出手段の検出出力に現れる1乃至複数のピークの各々に、リテンションタイムが各ピークの出現時間に略等しいガス成分のピーク波形を照合することによってガス成分の種類を識別するとともに、検出出力の出力値に対応した各ガス成分の濃度データから当該ガス成分のガス濃度を測定するガス成分測定手段と、を備えて成ることを特徴とする呼気成分分析装置。

IPC (9)：

G01N30/64 ,  G01N1/00 ,  G01N1/02 ,  G01N1/22 ,  G01N27/12 ,  G01N30/26 ,  G01N30/32 ,  G01N30/86 ,  G01N30/88

FI (15)：

G01N30/64 A ,  G01N1/00 101R ,  G01N1/02 W ,  G01N1/22 L ,  G01N27/12 A ,  G01N30/26 A ,  G01N30/26 E ,  G01N30/26 H ,  G01N30/26 N ,  G01N30/32 A ,  G01N30/32 C ,  G01N30/86 B ,  G01N30/86 G ,  G01N30/86 J ,  G01N30/88 E

F-Term (13)：

2G046AA01 ,  2G046BG01 ,  2G046BG07 ,  2G046DC05 ,  2G046DC13 ,  2G052AA34 ,  2G052AD22 ,  2G052AD42 ,  2G052CA03 ,  2G052CA04 ,  2G052CA12 ,  2G052ED07 ,  2G052GA21

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• ガスクロマトグラフ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-242628   Applicant：エフアイエス株式会社