Pat

J-GLOBAL ID：200903022238976641

塗膜の膜厚簡易検査装置

Inventor： 飯山 尚志
Applicant, Patent owner： ダイセル化学工業株式会社
Agent (1)： 古谷 馨 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991231903
Publication number (International publication number)：1993071927
Application date： Sep. 11, 1991
Publication date： Mar. 23, 1993
Summary：

【要約】【目的】 吸光度法により精度の高い膜厚測定を行いつつ、帯状塗布ムラの検査を同時に行うことのできる検査装置を提供する。【構成】 走行する光透過性のシートまたはフィルム1に塗布された塗布面に光を照射し、その透過光を光電変換した出力信号に基づき、塗膜の塗布量を検査する装置であって、光照射手段2、照射光の透過光を受光し電圧として出力する光電変換手段3、メモリレコーダー4、さらに、膜厚および帯状塗りムラ情報を出力する記録手段5からなることを特徴とする塗膜の膜厚簡易検査装置。

Claim (excerpt)：

走行する光透過性のシートまたはフィルムに塗布された塗布面に光を照射し、その透過光を光電変換した出力信号に基づき、塗膜の塗布量を検査する装置であって、光照射手段、照射光の透過光を受光し電圧として出力する光電変換手段、メモリレコーダー、さらに、膜厚および帯状塗りムラ情報を出力する記録手段からなることを特徴とする塗膜の膜厚簡易検査装置。

IPC (4)：

G01B 11/06 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/59 ,  G01N 21/89