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J-GLOBAL ID：200903022309152823

粉塵分析システム

Inventor： 笠井 清隆
Applicant, Patent owner： 理学電機工業株式会社
Agent (1)： 杉本 修司 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001164263
Publication number (International publication number)：2002357573
Application date： May. 31, 2001
Publication date： Dec. 13, 2002
Summary：

【要約】【課題】 フィルタ材の交換繁度が少なく、粉塵の測定結果をリアルタイムに得ることができる粉塵分析システムを提供する。【解決手段】 粉塵を含むガスの通路に臨んで配置され、前記粉塵を付着させるフィルタ材2と、前記フィルタ材2をその長手方向に間欠的に付着位置へ送ってフィルタ材2の一部分からなる付着領域aを前記通路に所定時間臨ませる送り装置7と、前記付着位置Aよりも送り方向の下流側に送られた付着領域に1次X線を照射して、この付着領域に付着した粉塵のX線分析を行うX線分析装置6を備えた。

Claim (excerpt)：

粉塵を含むガスの通路に臨んで配置され、前記粉塵を付着させる長尺のフィルタ材と、前記長尺のフィルタ材をその長手方向に間欠的に付着位置へ送ってフィルタ材の一部分からなる付着領域を前記通路に所定時間臨ませる送り装置と、前記付着位置よりも送り方向の下流側に送られた前記付着領域に1次X線を照射して、この付着領域に付着した粉塵のX線分析を行うX線分析装置と、を備えた粉塵分析システム。

IPC (3)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/02 ,  G01N 15/06

FI (3)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/02 G ,  G01N 15/06 D

F-Term (24)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001EA01 ,  2G001EA03 ,  2G001GA01 ,  2G001JA16 ,  2G001KA00 ,  2G001LA20 ,  2G001MA04 ,  2G001RA10 ,  2G001RA20 ,  2G052AA01 ,  2G052AA02 ,  2G052AA04 ,  2G052AC02 ,  2G052AC12 ,  2G052AD04 ,  2G052AD52 ,  2G052BA22 ,  2G052CA04 ,  2G052EA03 ,  2G052GA19