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J-GLOBAL ID：200903022404293388
帯状体の表面欠陥判定方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
細江 利昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995295154
Publication number (International publication number)：1997138200
Application date： Nov. 14, 1995
Publication date： May. 27, 1997
Summary：
【要約】【課題】 目視検査員と同等イメージの欠陥判定が行えるとともに、広範囲にわたって存在することの多い鋼板の汚れ等による欠陥誤判定をなくす方法を提供する。【解決手段】 光学的手段により検出された欠陥信号は、制御部20で画像処理され、演算処理部22で欠陥の種類と等級の判別が行われる。予め設定された一定長さの区間内で検出され、種類及び等級を判定された全欠陥に対し、マクロ処理部1の欠陥発生個数積算部2で欠陥の発生個数を、種類及び等級別にカウントし、そのカウントされた各々の欠陥の個数が欠陥発生個数設定部3に設定された、欠陥の種類及び等級毎の発生個数についてのしきい値を越えたとき、演算処理部4が、当該欠陥について、欠陥の等級を重くする。
Claim (excerpt)：
帯状被検査体表面からの反射光を画像解析して、帯状被検査体の表面欠陥の種類及び等級を判定する帯状体の表面欠陥判定方法において、予め設定された一定長さの区間内で検出され、種類及び等級を判定された全欠陥に対し、それらの欠陥の発生個数を種類及び等級別にカウントし、そのカウントされた各々の欠陥の個数が予め設けられた、欠陥の種類及び等級毎の発生個数についてのしきい値を越えたとき、当該欠陥について、欠陥の等級を重くすることを特徴とする帯状体の表面欠陥判定方法。
IPC (3)：
G01N 21/89
, G01N 21/88
, G06T 7/00
G01N 21/89 B
, G01N 21/88 J
, G06F 15/62 400
