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J-GLOBAL ID:200903022428965247
製品の製造方法および生産管理計算システム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996123428
Publication number (International publication number):1997050949
Application date: May. 17, 1996
Publication date: Feb. 18, 1997
Summary:
【要約】【課題】本課題は、大量不良の発生を予防し、製品の品質または特性の安定化とその歩留向上を図るようにした製品の製造方法および生産管理計算システムを提供することにある。【解決手段】製造ラインにおける所望の製造工程と所望の製造設備とについて相互に関係付けして各々における管理基準データを準備し、前記所望の製造工程における製品検査データおよび所望の製造設備における作業データを収集し、この収集された所望の製造工程における製品検査データを、前記関係付けして準備された所望の製造工程における管理基準データと比較することによって製品の品質または特性についての異常有無を評価し、更に前記収集された所望の製造設備における作業データを、前記関係付けして準備された所望の製造設備における管理基準データと比較することによって製造設備についての異常有無を評価し、各々の評価において異常と評価された場合に警告する生産管理計算システム21〜25を用いて、前記製造ラインにより製品を製造することを特徴とする。
Claim (excerpt):
製造ラインにおける所望の製造工程と所望の製造設備とについて相互に関係付けして各々における管理基準データを準備し、前記所望の製造工程における製品検査データおよび所望の製造設備における作業データを収集し、この収集された所望の製造工程における製品検査データを、前記関係付けして準備された所望の製造工程における管理基準データと比較することによって製品の品質または特性についての異常有無を評価し、更に前記収集された所望の製造設備における作業データを、前記関係付けして準備された所望の製造設備における管理基準データと比較することによって製造設備についての異常有無を評価し、各々の評価において異常と評価された場合に警告する生産管理計算システムを用いて、前記製造ラインにより製品を製造することを特徴とする製品の製造方法。
IPC (3):
H01L 21/02
, B23Q 41/08
, G06F 17/60
FI (3):
H01L 21/02 Z
, B23Q 41/08 Z
, G06F 15/21 R
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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工程管理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-113515
Applicant:富士電気化学株式会社
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製造条件の管理指示方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-147744
Applicant:株式会社日立製作所
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生産管理システム装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-003326
Applicant:本田技研工業株式会社
-
半導体装置の製造管理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-122240
Applicant:日本電気株式会社
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