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J-GLOBAL ID：200903022429514214
疵検査方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
大島 陽一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992181786
Publication number (International publication number)：1993346408
Application date： Jun. 15, 1992
Publication date： Dec. 27, 1993
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、鋼板の疵検査方法に関するもので、特に過検出や見逃しを回避することを目的とする。【構成】 レーザ投光器で鋼板の表面に向けてレーザスポットを幅方向に掃引照射し、その鋼板表面反射光を受光器で受けて電圧強度信号に変換する疵検査方法に於て、鋼板の表面粗度により入射光及び反射光の角度を変化せしめて検査を行う。各検査対象物の表面粗度に応じたS/N比を最大とする入射角θ1を予め設定すると共に、正反射受光であればθ2=θ1にて受光し、乱反射受光であればθ2=αθ1で受光する。【効果】 各検査対象物の表面粗度に対する最大S/N比をもって検査可能になり、検出率の向上、過検率の低減を図ることができる。
Claim (excerpt)：
検査対象物の表面に投光器からの投射光を照射しその反射光を受光して該検査対象物の表面を検査する疵検査方法に於て、前記検査対象物の表面粗度により入射光及び反射光の角度を変化させて検査を行うことを特徴とする疵検査方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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