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J-GLOBAL ID:200903022574563835
走査型蛍光顕微鏡のシェーディング補正方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (8):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005099337
Publication number (International publication number):2006275964
Application date: Mar. 30, 2005
Publication date: Oct. 12, 2006
Summary:
【課題】 高精度、高性能な測定及び画像解析を確保できる共焦点レーザ走査型顕微鏡と走査型サイトメータの機能を兼備した走査型蛍光顕微鏡のシェーディング補正方法を提供する。【解決手段】 スライドグラス101上に測定対象となる試料の大きさと略同じ直径の蛍光ビーズ102を散布した校正用サンプル100を用意し、この校正用サンプル100に対しレーザ光を2次元方向に走査し、該走査により取得された走査画像中の蛍光ビーズの位置とその明るさのデータから走査範囲に対応する照度校正係数マップを生成する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
共焦点レーザ走査型顕微鏡と走査型サイトメータのそれぞれの機能を兼備した走査型蛍光顕微鏡において、
スライドグラス上に測定対象となる標本の大きさと略同じ直径の蛍光ビーズを散布したサンプルを用意し、このサンプルに対しレーザ光を2次元方向に走査し、該走査により取得された走査画像中の蛍光ビーズの位置とその明るさのデータから、前記走査範囲に対応する照度校正係数マップを生成することを特徴とする走査型蛍光顕微鏡のシェーディング補正方法。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (24):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA05
, 2G043DA09
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043KA09
, 2G043LA02
, 2G043NA05
, 2G043NA13
, 2H052AA08
, 2H052AA09
, 2H052AB06
, 2H052AC27
, 2H052AC28
, 2H052AC34
, 2H052AF02
, 2H052AF14
, 2H052AF25
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
-
特許第3090679号公報
-
走査型サイトメータ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-266626
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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