Pat
J-GLOBAL ID：200903022582840872
遊技機検査装置及び遊技機検査方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
谷藤 孝司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996352220
Publication number (International publication number)：1998165616
Application date： Dec. 11, 1996
Publication date： Jun. 23, 1998
Summary：
【要約】【課題】 変動図柄表示手段及びその制御系を含む全体を検査対象として検査でき、その検査を短時間で容易且つ能率的に迅速にできる遊技機検査装置を提供する。【解決手段】 変動図柄を表示する変動図柄表示手段と、設定プログラムに従って各部を制御する動作処理手段と、プログラム処理に同期して動作処理手段の信号を繰り返し計数し且つ始動信号の入力時にその計数値を制御乱数として出力する乱数発生用計数手段と、始動信号により変動図柄表示手段を所定時間だけ変動動作させて制御乱数に応じた図柄で停止させる変動処理手段36とを備えた遊技機1 を検査する遊技機検査装置であって、乱数発生用計数手段と同時に動作処理手段の信号を計数して、乱数発生用計数手段33により発生する制御乱数の内、発生確率の低い制御乱数の発生に同期して検査信号を発生させる検査信号発生手段45を備え、この検査信号発生手段45の検査信号を遊技機1 側に始動信号として入力するように構成する。
Claim (excerpt)：
変動図柄を表示する変動図柄表示手段(29)と、設定プログラムに従って各部を制御する動作処理手段(32)と、プログラム処理に同期して動作処理手段(32)の信号を繰り返し計数し且つ始動信号の入力時にその計数値を制御乱数として出力する乱数発生用計数手段(33)と、始動信号により変動図柄表示手段(29)を所定時間だけ変動動作させて制御乱数に応じた図柄で停止させる変動処理手段(36)とを備えた遊技機(1) を検査する遊技機検査装置であって、乱数発生用計数手段(33)と同時に動作処理手段(32)の信号を計数して、乱数発生用計数手段(33)により発生する制御乱数の内、発生確率の低い制御乱数の発生に同期して検査信号を発生させる検査信号発生手段(45)を備え、この検査信号発生手段(45)の検査信号を遊技機(1) 側に始動信号として入力するように構成したことを特徴とする遊技機検査装置。
IPC (2)：
A63F 7/02 334
, A63F 7/02 320
A63F 7/02 334
, A63F 7/02 320
