放射線検出処理システム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：三澤正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998298633
Publication number (International publication number)：2000131440
Application date： Oct. 20, 1998
Publication date： May. 12, 2000
Summary：

【要約】【課題】本発明は、複数の半導体セルで構成された放射線検出器を用い、パルス計測モードと積分モードを併用して高精度のウインドウ解析が可能な放射線検出処理システムを提供する。【解決手段】積分回路70a、70b、・・・70nで積分され、ピークホールド回路71a、71b、・・・、71nで保持されて得られた積分信号は、マルチプレクサ72、A/D変換器73を介して論理演算回路74に供給される。論理演算回路74では、積分信号のピーク値(フルウインドウ積分値)を基に、サブウインドウカウント値とフルウインドウカウント値を参照してサブウインドウ積分値を計算する。また、積分値と真の放射線の入射レート(カウント値)との関係を予め計測し、フルウインドウ積分値とサブウインドウ積分値から補正後のフルウインドウカウント値とサブウインドウカウント値を取得する。

Claim (excerpt)：

複数の半導体セルを有する放射線検出器と、前記半導体セルの出力を比較的低速で波形整形する第1の波形整形回路と、前記第1の波形整形回路の出力を積分する積分回路と、前記半導体セルの出力を比較的高速で波形整形する第2の波形整形回路と、前記第1および第2の波形整形回路の出力を基にして放射線の入射カウント値を計測する計測手段と、前記計測手段によって計測された放射線の入射カウント値を基にして前記積分回路の出力から所定ウインドウの積分値を計算する計算手段とを備えたことを特徴とする放射線検出処理システム。

IPC (2)：

G01T 1/161 , G01T 1/17

FI (2)：

G01T 1/161 C , G01T 1/17 A

F-Term (18)：

2G088EE01 , 2G088EE02 , 2G088FF02 , 2G088FF04 , 2G088GG21 , 2G088JJ04 , 2G088JJ05 , 2G088KK01 , 2G088KK03 , 2G088KK06 , 2G088KK11 , 2G088KK15 , 2G088KK16 , 2G088KK27 , 2G088KK31 , 2G088LL01 , 2G088LL15 , 2G088LL17

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平4-062493
特開平4-062493
特開平4-110793

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