Pat

J-GLOBAL ID：200903022717713515

遠隔測定可能な分光分析装置

Inventor： 新堀 理 ,  三村 榮紀 ,  野田 行雄 ,  中井 哲哉
Applicant, Patent owner： 国際電信電話株式会社
Agent (1)： 大塚 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993174661
Publication number (International publication number)：1995012721
Application date： Jun. 23, 1993
Publication date： Jan. 17, 1995
Summary：

【要約】【目的】分析用光源に高輝度で発光スペクトル幅の広いインコヒーレント光光源を使用し、複数の低濃度の物質も同時に分析が可能でインラインモニタ等にも応用可能な信頼性・保守性・経済性に優れた遠隔測定可能な分光分析装置を提供する。【構成】導波構造を有しインコヒーレントな試料光を放出する分光分析用光源と、該試料光と内部に導入された分析対象物質とを相互作用させ相互作用した信号光を送出する導波機能を有する分光分析用セルと、該信号光を分析し計測する計測部と、該分光分析用光源から放出された試料光を該分光分析用セルに伝送する第1の光ファイバと、該分光分析用セルから送出する信号光を該計測部に伝送する第2の光ファイバとを備えた構成を有する。

Claim (excerpt)：

導波構造を有しインコヒーレントな試料光を放出する分光分析用光源と、該試料光と内部に導入された分析対象物質とを相互作用させその相互作用した信号光を送出する導波機能を有する分光分析用セルと、該信号光を分析し計測する計測部と、該分光分析用光源から放出された試料光を該分光分析用セルに伝送する第1の光ファイバと、該分光分析用セルから送出する信号光を該計測部に伝送する第2の光ファイバとを備えた遠隔測定可能な分光分析装置。