Pat

J-GLOBAL ID：200903022944865607

粒子操作方法及び装置、並びにこれを用いた測定装置

Inventor： 西村 松臣 ,  大西 敏一 ,  高山 秀人 ,  田中 和實 ,  宮崎 健 ,  岡本 尚志
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 丸島 儀一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992344578
Publication number (International publication number)：1993296914
Application date： Dec. 24, 1992
Publication date： Nov. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】 簡単な手法にて媒質中の粒子を操作すること。【構成】 流通路2に微粒子が浮遊する液体の流れを形成して微粒子を移動させる。この流れに対してレーザ光源5から強度勾配を持った光を集光照射すると、照射位置8に微粒子が光学トラップされて流れに抗して静止する。制御回路7によって光照射のオン・オフの時間間隔を適切に設定することにより、照射位置8の後方での粒子の流れに所望の移動間隔を与えることができる。

Claim (excerpt)：

移動する粒子を光学的に制動することによって粒子を操作することを特徴とする粒子操作方法。

IPC (2)：

G01N 15/14 ,  G01N 1/00 101

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-091545
  
• 特開平4-036637
  
• 特開平3-295464
  
• 特開平4-006465