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J-GLOBAL ID：200903022961327430
キャリアのスピンのフィルタ及びこれを用いた磁化分布測定方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
松隈 秀盛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993050730
Publication number (International publication number)：1994268283
Application date： Mar. 11, 1993
Publication date： Sep. 22, 1994
Summary：
【要約】【目的】 キャリアのスピンの選択性を有するフィルタを提供し、例えばスピン偏極STMの探針として用いることにより、試料表面の磁化に影響を及ぼすことなく表面状態を微視的に探ることができるようにする。【構成】 磁性体ポテンシャル井戸層1(11 、12 、13 )が障壁層2(21、22 、23 、24 )に挟まれた構造を少なくとも1つ以上有して成り、少なくとも一方の端部11、12を非磁性導電体より構成する。
Claim (excerpt)：
磁性体ポテンシャル井戸層が障壁層に挟まれた構造を少なくとも1つ以上有して成り、少なくとも一方の端部が非磁性導電体より成ることを特徴とするキャリアのスピンのフィルタ。
IPC (4)：
H01L 49/00
, G01R 33/02
, G01R 33/10
, G01R 33/12
