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J-GLOBAL ID：200903023080557251
物体の3次元位置・姿勢計測方式
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
竹本 松司 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992100340
Publication number (International publication number)：1993231836
Application date： Mar. 26, 1992
Publication date： Sep. 07, 1993
Summary：
【要約】【目的】 対象物の3次元位置・姿勢を正確にかつ短い処理時間で測定する。【構成】 投光器3Vから対象物5に第1のスリット光を投影しかつ、このスリット光を走査して各画像をCCDカメラ4を介して画像処理装置1内に取り込む。同様に投光器3Hで投光した第2のスリット光を走査して各画像を取り込む。取り込まれたスリット光画像の折れ点、端点より対象物の稜線等を求め対象物の位置・姿勢を求める。第1および第2のスリット光6V,6Hを走査して対象物の稜線等を検出するから、スリット光の走査を粗くしても、対象物の稜線は確実に検出できる。そして、走査が粗ければ、データも少なくなり、位置・姿勢を測定する処理時間も短くなる。そのため、産業用ロボットに適用しても実用的なものとなる。
Claim (excerpt)：
投光器よりスリット光を対象物に投影してスリット光画像より対象物の位置・姿勢を計測する物体の3次元位置・姿勢計測方式において、固体撮像素子カメラに対して投光器を偏位して配置し、上記固体撮像素子カメラ視野に対して上記投光器の偏位方向とは異なる方向の第1のスリット光を対象物に投影して所定間隔で上記第1のスリット光の方向とは異なる方向に順次走査し、各走査毎に固体撮像素子カメラにより第1の多重スリット光画像を得ると共に、上記固体撮像素子カメラ視野に対して上記投光器の偏位方向とは異なり、かつ上記第1のスリット光の方向とは異なる第2のスリット光を対象物に投影して、所定間隔で上記第2のスリット光の方向とは異なる方向に順次走査し、各走査毎に固体撮像素子カメラにより第2の多重スリット光画像を得て、求められた第1,第2の多重スリット光画像の光切断情報から対象物の位置と姿勢を計測することを特徴とする物体の3次元位置・姿勢計測方式。
IPC (2)：
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