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J-GLOBAL ID：200903023084790635

はんだ検査装置

Inventor： 石羽 正人
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (1)： 青木 輝夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999159706
Publication number (International publication number)：2000065552
Application date： Jun. 07, 1999
Publication date： Mar. 03, 2000
Summary：

【要約】【課題】 プリント基板に印刷されたクリーム状はんだの印刷状態の良否を検査するはんだ検査装置に関し、検査結果を各ランド単位または各部品単位で管理することを目的とする。【解決手段】 プリント基板を撮像して得られる画像データに基づきプリント基板に印刷されたはんだの印刷状態を検査するはんだ検査装置において、複数のはんだ印刷箇所の検査結果をはんだ印刷箇所毎に管理するランド単位管理と、部品単位で管理する部品単位管理とを行うデータ管理手段を有する。

Claim (excerpt)：

プリント基板を撮像して得られる画像データに基づき前記プリント基板に印刷されたはんだの印刷状態を検査するはんだ検査装置において、複数のはんだ印刷箇所の検査結果を前記はんだ印刷箇所毎に管理するランド単位管理と、部品単位で管理する部品単位管理とを行うことができるデータ管理手段を有することを特徴とするはんだ検査装置。

IPC (3)：

G01B 11/30 ,  G01B 11/24 ,  H05K 3/34 512

FI (3)：

G01B 11/30 C ,  G01B 11/24 F ,  H05K 3/34 512 A