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J-GLOBAL ID：200903023128372615

測距装置

Inventor： 石井敦次郎 ,  鈴木雅弘 ,  米谷 敦
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 韮澤 弘 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996121636
Publication number (International publication number)：1997304054
Application date： May. 16, 1996
Publication date： Nov. 28, 1997
Summary：

【要約】【課題】 コスト高や大型化を招くことなく、光量ロスの少ない、中抜けのない多点測距の実現、また、パララックスのない測距装置の実現。【解決手段】 発光素子1からの光を投光レンズ系2を通して物体に投影し、その反射光を受光レンズ系を通して光電変換素子上に結像し、その出力信号から物体までの距離を検知する測距装置において、投光レンズ系2の一部に異なる結像位置を持つ複数の回折パターン7〜9を形成し、投光光束を分割して、多点測距、パララックスのない測距装置を実現する。

Claim (excerpt)：

発光素子からの光を投光レンズ系を通して物体に投影し、その反射光を受光レンズ系を通して光電変換素子上に結像し、その出力信号から物体までの距離を検知する測距装置において、投光レンズ系の一部にレンズ作用を有する回折パターンを形成し、投光光束を分割することを特徴とする測距装置。

IPC (4)：

G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G02B 7/34 ,  G03B 13/36

FI (4)：

G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 B ,  G02B 7/11 C ,  G03B 3/00 A