Pat

J-GLOBAL ID：200903023138869410

多波長蛍光偏光法

Inventor： 中山 浩 ,  北脇 文久 ,  宮崎 仁誠
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998189512
Publication number (International publication number)：2000019172
Application date： Jul. 03, 1998
Publication date： Jan. 21, 2000
Summary：

【要約】【課題】試料中の2種類以上の測定対象物を分析するための多波長蛍光偏光法を提供すること。多波長蛍光偏光法を利用して試料中に含まれる2種類以上の測定対象物を定量するためのキットおよびシステムを提供すること。【解決手段】多波長蛍光偏光法は、(a)2種類以上の蛍光標識物質であって、異なる測定対象物にそれぞれ特異的に結合する物質と測定対象物ごとに異なる蛍光色素とが共有結合した蛍光標識物質を提供する工程、(b)該蛍光標識物質を2種類以上の測定対象物と結合させる工程、および(c)それぞれの測定対象物が結合した蛍光標識物質の蛍光偏光度変化を測定する工程、を包含する。

Claim (excerpt)：

試料中の2種類以上の測定対象物を分析するための多波長蛍光偏光法であって、以下の工程:(a)2種類以上の蛍光標識物質であって、異なる測定対象物にそれぞれ特異的に結合する物質と測定対象物ごとに異なる蛍光色素とが共有結合した蛍光標識物質を提供する工程、(b)該蛍光標識物質を2種類以上の測定対象物と結合させる工程、および(c)それぞれの測定対象物が結合した蛍光標識物質の蛍光偏光度変化を測定する工程、を包含する、多波長蛍光偏光法。

IPC (5)：

G01N 33/536 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/542 ,  G01N 33/543 501 ,  G01N 33/543 575

FI (5)：

G01N 33/536 E ,  G01N 21/64 A ,  G01N 33/542 A ,  G01N 33/543 501 D ,  G01N 33/543 575

F-Term (8)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA06 ,  2G043GA07 ,  2G043GB21 ,  2G043KA07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-188374
  
• 特開平3-279860
  
• 特開昭62-025263