Pat

J-GLOBAL ID：200903023282913670

米粒透視器

Inventor： 飯郷 雅
Applicant, Patent owner： 株式会社ケット科学研究所
Agent (1)： 浅村 皓 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996322638
Publication number (International publication number)：1998160677
Application date： Dec. 03, 1996
Publication date： Jun. 19, 1998
Summary：

【要約】【課題】 米粒透視器に試料皿を回転可能に設置できるようにして、光源からの斜方の光を360度の方向から米粒に照射可能として、米粒の胴割れの検出精度を向上させる。【課題を解決する手段】 本体1内部の光源から光が斜方に窓3にはめ込まれたガラス板4を通過して、ガイド板5の切欠き5aを介して円形開口5bに回転可能に配置された試料皿6の透明底部を透過して試料皿6の米粒に照射される。光が米粒に透過することにより生ずる暗影で米粒の胴割れを判断する。試料皿6を回転することにより光源からの光を米粒に360度にわたり照射可能である。

Claim (excerpt)：

透明な底面を有する試料皿と、該試料皿の底面に対して垂直に光が入射しないように配置され、該底面に斜方から光を入射させる光源と、該光源を内蔵し、しかして前記試料皿を受ける開口を設けた上面を有するハウジングとを有する米粒透視器において、前記試料皿は、前記開口に回転可能に配置されていることを特徴とする米粒透視器。

IPC (2)：

G01N 21/85 ,  B02B 7/00

FI (2)：

G01N 21/85 A ,  B02B 7/00 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• シート状物の欠陥検査用照明装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-325971   Applicant：住友化学工業株式会社
• 電子部品検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-298242   Applicant：三洋電機株式会社