Pat

J-GLOBAL ID：200903023306399395

構造テスト装置

Inventor： 渥美 康代
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995001950
Publication number (International publication number)：1996190560
Application date： Jan. 10, 1995
Publication date： Jul. 23, 1996
Summary：

【要約】【目的】 本発明の目的は、構造化文書の構造的なテストを簡易で高速に処理することが可能な構造化文書における構造テスト装置を提供することである。【構成】 構造化文書の構造を表示するためのテストデータを生成するテストデータ生成手段10と、テストデータ生成手段10より取得したテストデータを用いて、構造化文書の構造のエラーを抽出してテスト結果として出力するテスト手段50と、テスト手段50のテスト結果に基づいて、エラー部分を修正する修正手段70とを有する。

Claim (excerpt)：

文書作成の際に構造的な関連により該文書のテストを行う構造テスト装置において、前記文書の構造を解析するためのテストデータを生成するテストデータ生成手段と、前記テストデータ生成手段より取得した前記テストデータ、または、入力された文書を用いて、前記文書の確認すべきまたは、エラーである構造表示データ及び導入部を抽出してテスト結果として出力するテスト手段と、前記テスト手段の前記テスト結果に基づいて、前記エラー部分を修正する修正手段とを有することを特徴とする構造テスト装置。

FI (2)：

G06F 15/20 550 E ,  G06F 15/20 550 F