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J-GLOBAL ID：200903023345780187

遺伝子発現プロファイル解析方法及び装置

Inventor： 吉川 良恵 ,  峰野 純一 ,  向井 博之 ,  浅田 起代蔵 ,  加藤 郁之進 ,  香川 芳範 ,  谷嶋 成樹 ,  永野 隆文 ,  山田 訓
Applicant, Patent owner： タカラバイオ株式会社 ,  三菱スペース・ソフトウエア株式会社
Agent (1)： 佐野 弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001192146
Publication number (International publication number)：2003004739
Application date： Jun. 26, 2001
Publication date： Jan. 08, 2003
Summary：

【要約】【課題】 遺伝子発現プロファイルデータから注目する評価指標データを推定する。【解決手段】 遺伝子の組み合わせ候補を生成し、生成された遺伝子の組み合わせを用いて評価指標を推定し、その推定結果に基づき遺伝子の組み合わせを評価し、その評価に基づき遺伝子の組み合わせを生成することを繰り返すことによって、設定した評価以上の遺伝子の組み合わせを求め、その遺伝子の組み合わせを用いて注目する評価指標を推定する構成にした。

Claim (excerpt)：

各試料における遺伝子発現プロファイルデータと注目する評価指標データとを受け取る入力手段と、入力されたデータから評価指標データ推定のための遺伝子の組み合わせ候補を生成する遺伝子組み合わせ手段と、遺伝子の組み合わせ候補の遺伝子発現プロファイルデータから評価指標データを推定する手段を構築する第1推定手段構築手段と、該第1推定手段構築手段により構築され遺伝子の組み合わせ候補の遺伝子発現プロファイルデータから評価指標データを推定する第1推定手段と、前記第1推定手段を用いて前記遺伝子の組み合わせ候補を評価し、予め設定された基準を満たしていれば組み合わせ結果を出力手段に出力し、満たしていなければ再度前記遺伝子組み合わせ手段に処理を戻す遺伝子組み合わせ評価手段と、前記遺伝子の組み合わせ結果と評価指標データを推定する推定法を出力する前記出力手段とを備え、注目する評価指標と関係の深い遺伝子を抽出し、評価指標データを推定する推定法を得ることを特徴とする遺伝子発現プロファイル解析装置。

IPC (7)：

G01N 33/53 ,  C12M 1/00 ,  C12N 15/09 ,  C12N 15/09 ZNA ,  C12Q 1/68 ,  G06F 17/30 170 ,  G06N 3/12

FI (7)：

G01N 33/53 Z ,  C12M 1/00 A ,  C12Q 1/68 A ,  G06F 17/30 170 F ,  G06N 3/12 ,  C12N 15/00 ZNA A ,  C12N 15/00 F

F-Term (30)：

4B024AA11 ,  4B024AA19 ,  4B024AA20 ,  4B024CA04 ,  4B024CA09 ,  4B024CA12 ,  4B024CA20 ,  4B024HA14 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC03 ,  4B029FA15 ,  4B063QA01 ,  4B063QA05 ,  4B063QA19 ,  4B063QQ02 ,  4B063QQ53 ,  4B063QR32 ,  4B063QR56 ,  4B063QR62 ,  4B063QR82 ,  4B063QS16 ,  4B063QS25 ,  4B063QS34 ,  4B063QS39 ,  5B075ND20 ,  5B075NK02 ,  5B075PR06 ,  5B075QM08 ,  5B075UU19