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J-GLOBAL ID：200903023358127709

遺伝子発現パターン表示方法および装置並びに記録媒体

Inventor： 中重 亮 ,  野崎 康行 ,  渡辺 恒彦 ,  田村 卓郎
Applicant, Patent owner： 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 小川 眞一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000088695
Publication number (International publication number)：2001281244
Application date： Mar. 28, 2000
Publication date： Oct. 10, 2001
Summary：

【要約】【課題】 遺伝子発現パターンデータを対象としたクラスタリングの結果から、より大まかな分類結果を自動的に抽出し、ユーザが選択できるようにする。【解決手段】 遺伝子の発現パターンのデータをクラスタ分析した結果に対し、識別誤差範囲を考慮した段階別クラスタ概数を表示する。クラスタ分析の結果において、あるクラスタに属する遺伝子発現パターンデータの個数が所定数以上の場合に限り、遺伝子グループとしてグループ化して表示する。

Claim (excerpt)：

複数の遺伝子の発現パターンを視覚的に表示する遺伝子発現パターン表示方法であって、前記遺伝子の発現パターンのデータをクラスタ分析した結果に対し、識別誤差範囲を考慮した段階別クラスタ概数を表示するステップを備えることを特徴とする遺伝子発現パターン表示方法。

IPC (7)：

G01N 33/53 ,  C12M 1/00 ,  G01N 33/566 ,  G01N 35/00 ,  G01N 35/02 ,  G01N 37/00 102 ,  C12N 15/09

FI (7)：

G01N 33/53 M ,  C12M 1/00 A ,  G01N 33/566 ,  G01N 35/00 A ,  G01N 35/02 E ,  G01N 37/00 102 ,  C12N 15/00 A

F-Term (8)：

2G058AA09 ,  2G058CC09 ,  2G058GD05 ,  2G058GD07 ,  4B024AA11 ,  4B024AA19 ,  4B024HA11 ,  4B029AA23

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• データ表示装置、データ表示方法、およびデータ表示用プログラムを記録した記録媒体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-163049   Applicant：富士通株式会社