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J-GLOBAL ID：200903023394149727
検鏡支援装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
古谷 史旺 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998170942
Publication number (International publication number)：2000010015
Application date： Jun. 18, 1998
Publication date： Jan. 14, 2000
Summary：
【要約】【課題】 本発明は、複数の被調整部を有する顕微鏡システムを備えた検鏡支援装置に関し、同一の標本の検鏡が繰り返し行われる際の操作性を確実に向上することを目的とする。【解決手段】 複数の被調整部を有する顕微鏡システムと、顕微鏡システムによる検鏡対象である標本の識別情報を取得する識別情報取得手段と、前記標本が検鏡対象となっている間に顕微鏡システムの被調整部の状態を示す顕微鏡状態情報を検出する状態検出手段と、前記顕微鏡状態情報を前記識別情報に対応付けて記録する記録手段と、既に検鏡された標本と同一の識別情報を示す標本が検鏡対象となった際、識別情報取得手段で再度取得される識別情報に対応する顕微鏡状態情報を記録手段から読み出し、顕微鏡システムの被調整部を顕微鏡状態情報が示す状態に調整する顕微鏡調整手段とを備えて構成される。
Claim (excerpt)：
複数の被調整部を有する顕微鏡システムと、前記顕微鏡システムによる検鏡対象である標本の識別情報を取得する識別情報取得手段と、前記標本が検鏡対象となっている間に前記顕微鏡システムの被調整部の状態を示す顕微鏡状態情報を検出する状態検出手段と、前記状態検出手段によって検出される顕微鏡状態情報を前記識別情報取得手段によって取得される識別情報に対応付けて記録する記録手段と、既に検鏡された標本と同一の識別情報を示す標本が検鏡対象となった際、前記識別情報取得手段によって再度取得される識別情報に対応する顕微鏡状態情報を前記記録手段から読み出し、前記顕微鏡システムの被調整部を該顕微鏡状態情報が示す状態に調整する顕微鏡調整手段とを備えたことを特徴とする検鏡支援装置。
F-Term (5)：
2H052AD19
, 2H052AE04
, 2H052AF00
, 2H052AF01
, 2H052AF14
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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