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J-GLOBAL ID：200903023432100052

めつき浴中の金属イオン濃度の分析方法

Inventor： 内田 廣記 ,  久保 元伸 ,  木曽 雅之 ,  堀田 輝幸 ,  上玉利 徹
Applicant, Patent owner： 上村工業株式会社
Agent (1)： 小島 隆司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991322536
Publication number (International publication number)：1993133902
Application date： Nov. 11, 1991
Publication date： May. 28, 1993
Summary：

【要約】【構成】 鉛めっき浴からめっき液を分取し、これにヨウ化物を添加して発色させた後、吸光度を測定し、得られた吸光度よりめっき液中の鉛イオン濃度を求める。また、錫・鉛合金めっき浴の場合は、上記のようにして鉛イオン濃度を求めた後、別に分取しためっき液中にチオ尿素又はその誘導体を添加して吸光度を測定し、2価の錫イオンと鉛イオンとの合計吸光度を得ると共に、この測定値から上で得た鉛イオン濃度より求められる鉛イオンによる吸光度分を減算して、2価の錫イオンのみによる吸光度を算出し、この錫イオンの吸光度から2価の錫イオン濃度を得ることにより、めっき浴中の鉛イオン及び2価の錫イオンの濃度を求める。【効果】 めっき浴中の鉛イオン又は鉛イオンと2価の錫イオンを簡便かつ正確に定量することができる。

Claim (excerpt)：

鉛又は銅イオンを含まない鉛合金めっき浴からめっき液を分取し、これにヨウ化物を添加して発色させた後、吸光度を測定し、得られた吸光度よりめっき液中の鉛イオン濃度を求めることを特徴とするめっき浴中の金属イオン濃度の分析方法。

IPC (2)：

G01N 21/78 ,  G01N 31/00