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J-GLOBAL ID：200903023442800206

イオン選択性単電極複合体、その製造方法、およびイオン活量測定器具

Inventor： 寺嶋 正明 ,  瀬志本 修
Applicant, Patent owner： 富士写真フイルム株式会社
Agent (1)： 柳川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000316977
Publication number (International publication number)：2002122563
Application date： Oct. 17, 2000
Publication date： Apr. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】 製造工程が簡略化され、製造コストが低減されたイオン選択性電極、その製造方法、およびそれを用いたイオン活量測定器具を提供する。【解決手段】 金属銀層、ハロゲン化銀層、電解質層、そしてイオン選択性膜がこの順に積層された電極積層体、そして電極積層体の金属銀層に電気的に接続された状態で隣接し、表面に金属銀露出面を有する電気的接続端子層から構成されているイオン選択性単電極が複数個、共通の非導電性支持体の上に、互いに電気的に絶縁された状態で、各イオン選択性単電極の電極積層体と電気的接続端子層とが直列状態となるように順次隣接して配置したイオン選択性単電極複合体、そしてこの構成の変形。上記のイオン選択性単電極複合体は、多数個同時に製造することができる。

Claim (excerpt)：

金属銀層、ハロゲン化銀層、電解質層、そしてイオン選択性膜がこの順に積層されてなる電極積層体、そして該電極積層体の金属銀層に電気的に接続された状態で隣接し、表面に金属銀露出面を有する電気的接続端子層から構成されているイオン選択性単電極が複数個、共通の非導電性支持体の上に、互いに電気的に絶縁された状態で、各イオン選択性単電極の電極積層体と電気的接続端子層とが直列状態となるように順次隣接して配置されていることを特徴とするイオン選択性単電極複合体。

IPC (2)：

G01N 27/333 ,  G01N 27/416

FI (6)：

G01N 27/30 331 Z ,  G01N 27/46 351 B ,  G01N 27/46 351 A ,  G01N 27/46 351 J ,  G01N 27/46 351 K ,  G01N 27/46 353 Z