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J-GLOBAL ID：200903023444511279

多光波光源による光波断層画像測定用高空間分解能合成光源

Inventor： 佐藤 学 ,  丹野 直弘
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団
Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001007501
Publication number (International publication number)：2002214125
Application date： Jan. 16, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：

【要約】【課題】 コストダウン、小型・軽量化、光源の簡素化に加えて空間分解能の向上を図ることができる多光波光源による光波断層画像測定用高空間分解能合成光源を提供する。【解決手段】 多光波光源による光波断層画像測定用高空間分解能合成光源であって、それぞれの光源の中心波長、スペクトル幅、強度が最適条件を満たすようにセットされる複数の半導体発光素子1〜Nからなる多光波光源と、この多光波光源からの出力を結合する光結合器11と、この光結合器11から出力される単一のファイバー合成光源とを具備する。

Claim (excerpt)：

(a)それぞれの光源の中心波長、スペクトル幅、強度が最適条件を満たすようにセットされる、複数個の光源からなる多光波光源と、(b)該多光波光源からの出力を結合する光結合器と、(c)該光結合器から出力される単一光波の合成光源とを具備する多光波光源による光波断層画像測定用高空間分解能合成光源。

IPC (2)：

G01N 21/01 ,  G01N 21/17 620

FI (2)：

G01N 21/01 D ,  G01N 21/17 620

F-Term (8)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059FF01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ17 ,  2G059NN10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 光学測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-073918   Applicant：興和株式会社
• 光源手段
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-356757   Applicant：株式会社トプコン, 浜松ホトニクス株式会社
• 媒質の測定装置および測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-170493   Applicant：松下電器産業株式会社