Pat
J-GLOBAL ID：200903023461095807
試料ホルダ及びそれを用いた測定装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
岩橋 祐司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998112985
Publication number (International publication number)：1999304689
Application date： Apr. 23, 1998
Publication date： Nov. 05, 1999
Summary：
【要約】【課題】 本発明の目的は、測定に悪影響を及ぼす原因となる例えば正反射光、赤外線吸収などを低減すると共に、測定に必要な、試料からの拡散反射光を十分に得ることができる試料ホルダ及びそれを用いた測定装置を提供することにある。【解決手段】 試料124を保持するための微少溝116cを複数個分布する試料保持面116bを含み、該試料保持面116bへ入射した光を、該複数個の微少溝116c内の試料にて、測定に必要な拡散反射光とすることを特徴とする試料ホルダ116。
Claim (excerpt)：
試料の拡散反射スペクトルを測定する際に用いられる試料ホルダにおいて、試料を保持するための微少溝を、複数個分布する試料保持面を含み、該試料保持面へ入射した光を、該複数個の微少溝内の試料にて、測定に必要な拡散反射光とすることを特徴とする試料ホルダ。
IPC (3)：
G01N 21/01
, G01N 21/35
, G01N 21/47
G01N 21/01 B
, G01N 21/35 Z
, G01N 21/47 Z
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
Return to Previous Page
