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J-GLOBAL ID：200903023502079587

2次元画像比較による外観の測定方法および装置

Inventor： 小櫻 義▲隆▼ ,  横尾 正幸 ,  細矢 知秀
Applicant, Patent owner： 株式会社横河ブリッジ
Agent (1)： 杉村 暁秀 (外8名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998144238
Publication number (International publication number)：1999337322
Application date： May. 26, 1998
Publication date： Dec. 10, 1999
Summary：

【要約】【目的】 地滑り・岩盤崩落・落石・転倒・岩滑りなどの危険斜面の変位や変化、風化による壁画の形状・色の変化などのように、平面形状の寸法や色の変化を計測するための方法および装置を提供すること。【構成】 測定領域1内に4個以上のコントロールポイント用ターゲット2と、計測精度を向上させる場合は1個以上の計測用ターゲット3とを配置し、固体撮像装置4によって測定領域を撮像し、最初に撮像した画像を基準画像としてメモリ6に記憶しておく。その後に撮像された測定画像を、信号処理回路5において、測定画像中のコントロールポイントが基準画像中のコントロールポイントと一致するようにアングル変換して補正済み測定画像を作成し、この補正済み測定画像と基準画像とを2次元的に比較して測定領域の時間的な形状変化や色変化を計測する。

Claim (excerpt)：

外観を測定すべき領域内に相対位置関係が既知のコントロールポイントを4個以上設定し、これらのコントロールポイントを含む測定領域を撮像装置で撮像して得られる2次元画像データを基準画像として記憶し、ほぼ同じ位置からほぼ同じ要領で撮影して得られる2次元画像データを測定画像として蓄積した後、各測定画像を、その中の4個以上のコントロールポイントが、前記基準画像中の4個以上のコントロールポイントとほぼ一致するようにアングル補正して補正済み測定画像を作成し、この補正済み測定画像を基準画像と比較することによって、測定すべき領域の時間的な形状変化や色変化を計測することを特徴とする2次元画像比較による外観の測定方法。