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J-GLOBAL ID：200903023559095716

ノイズレベルの測定方法

Inventor： クリスチャン・ヘンチェル ,  エメリッチ・マーラー ,  クレメンス・ルエック ,  エドガー・レッケル
Applicant, Patent owner： ヒューレット・パッカード・カンパニー
Agent (1)： 上野 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995109086
Publication number (International publication number)：1995301580
Application date： Apr. 10, 1995
Publication date： Nov. 14, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】信号存在下でのノイズレベルの測定精度を高める【構成】信号波長λsignalにおいて出力レベルを複数の波長λにおいて測定する。次に信号波長をλsignalとは異なる波長に離調して前記複数の波長λにおいて出力レベルを測定する。離調前後の出力レベルの差を波長λの関数として求める。離調時の波長λsignalにおける出力レベルに前記関数の波長λsignalにおける(補間)値を加算して信号波長λsignalにおけるノイズレベルを決定する。

Claim (excerpt)：

ある信号波長(λsignal)での信号(51)中のノイズレベルの測定方法であって、a)前記信号(51)を前記信号波長とは異なる第2の信号波長に離調するステップと、b)前記離調の前後における前記ノイズレベルの差に対応する差分関数(Δ(λ))を波長の関数として決定するステップと、c)前記ノイズレベルの前記信号波長(λsignal)における測定値(N* (λsignal))を測定するステップと、d)前記信号波長(λsignal)での前記差分関数の値を前記測定値(N* (λsignal))に加算するステップ、とからなる測定方法。

IPC (3)：

G01M 11/00 ,  G01J 3/28 ,  H04B 10/08