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J-GLOBAL ID:200903023571994157
ドセタキセル耐性または感受性の測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (6):
高木 千嘉
, 結田 純次
, 三輪 昭次
, 竹林 則幸
, 新井 信輔
, 犬山 広樹
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007545523
Publication number (International publication number):2008522615
Application date: Dec. 01, 2005
Publication date: Jul. 03, 2008
Summary:
本発明は、タキソイドファミリー分子に対する患者の応答を、対照と比較した特異的遺伝子マーカーの増減を測定することで予測またはモニタリングする、新規で有用な方法に関する。本発明はまた、タキソイドファミリー分子に対する患者の応答を、特定の遺伝子マーカーの核酸またはタンパク質レベルを測定すること、およびこれらのレベルを対照または参照マーカーと比較することで予測またはモニタリングするキットも提供する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
a)患者の癌領域から試験試料を得る工程、
b)対照試料を得る工程、
c)1種またはそれ以上の遺伝子マーカーのレベルを測定する工程、および
d)試験試料および対照試料における上記1種またはそれ以上の遺伝子マーカーの測定レベルを比較する工程
を含み、対照試料と比較した場合の、試験試料において測定された上記1種またはそれ以上の遺伝子マーカーレベルの低下が、タキソイドファミリー分子に対する耐性の増加を表す、タキソイドファミリー分子に対する癌患者の応答を予測またはモニタリングする方法。
IPC (5):
C12Q 1/68
, C12N 15/09
, G01N 33/574
, G01N 33/53
, G01N 37/00
FI (6):
C12Q1/68 A
, C12N15/00 A
, G01N33/574 A
, G01N33/53 M
, G01N33/53 D
, G01N37/00 102
F-Term (19):
4B024AA01
, 4B024AA11
, 4B024CA02
, 4B024CA12
, 4B024HA14
, 4B063QA05
, 4B063QA18
, 4B063QQ08
, 4B063QQ43
, 4B063QQ53
, 4B063QR07
, 4B063QR08
, 4B063QR32
, 4B063QR56
, 4B063QR62
, 4B063QS16
, 4B063QS25
, 4B063QS34
, 4B063QX02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
特開昭55-015100
-
特開昭63-269056
-
タキサン化学受容性予測試験法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-524833
Applicant:ボードオブリージェンツ,ザユニバーシティオブテキサスシステム, シスメックス株式会社
Article cited by the Patent:
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