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J-GLOBAL ID：200903023640518494

マイクロ波伝送ライン反射率計を使用した材料欠陥の検出および一決定方法および装置

Inventor： ドナルド・イー・マーテンス ,  ルイス・イー・ゲイツ・ジュニア ,  ロナルド・アイ・ウルフソン ,  ウィリアム・ダブリユ・ミルロイ ,  ジョセフ・ピー・スマランスカス
Applicant, Patent owner： ヒューズ・エアクラフト・カンパニー
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992225099
Publication number (International publication number)：1993196582
Application date： Jul. 31, 1992
Publication date： Aug. 06, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、航空機のフレーム等を非破壊的に随時検査することのできる欠陥センサを得ることを目的とする。【構成】 検査される構造体で構成される誘電体基体20と、この誘電体基体20の第1の側面に配置された第1の伝送ライン22とを具備し、この第1の伝送ライン22は欠陥を表わす電界中の擾乱がマイクロ波信号において反射波を生じさせるようにマイクロ波信号の伝播が伝送ラインの周囲に電界を生成するように一端でマイクロ波信号を受けることを特徴とする。伝送ライン22は図示のように蛇行させて構成すれば屈曲位置で反射が生じ、さらに欠陥位置でも反射が生じる。

Claim (excerpt)：

第1の側面および第2の側面を含む第1の誘電体基体と、前記誘電体基体の第1の側面上に配置された第1の伝送ラインとを具備し、この第1の伝送ラインは欠陥を表わす電界中の擾乱がマイクロ波信号において反射波を生じさせるようにマイクロ波信号の伝播が伝送ラインの周囲に電界を生成するように一端でマイクロ波信号を受けることを特徴とする欠陥センサ。

IPC (2)：

G01N 22/02 ,  B64C 1/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭48-045279
  
• 特開昭62-259048