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J-GLOBAL ID：200903023645520306

仮想スライドの画質を評価するシステム及び方法

Inventor： アレン・オルソン ,  キラン・サリグラマル ,  ダーク・ジー・ソーンクセン
Applicant, Patent owner： アペリオ・テクノロジーズ・インコーポレイテッド
Agent (2)： 藤田 和子 ,  八木澤 史彦
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2007515378
Publication number (International publication number)：2008500586
Application date： May. 26, 2005
Publication date： Jan. 10, 2008
Summary：

仮想顕微鏡スライドの画質を評価するためのシステムと方法が提供される。仮想スライド画像が焦点外れのエリアを有し、よって手動検査の候補であるか否かを決定するために、仮想スライド画像の走査に使用される様々な合焦点を使用して仮想スライド画像の最良適合表面が計算される。次に、最良適合表面から各合焦点までの距離が計算され、最大距離が所定値と比較される。最良適合表面から合焦点までの最大距離が所定値より大きいとき、仮想スライド画像に手動検査及び可能な再走査が必要であることが指摘される。

Claim (excerpt)：

仮想顕微鏡スライド画像の画質を評価するためのコンピュータにより実行される方法であって、 仮想顕微鏡スライド画像を走査するために使用された複数の合焦点を識別することと、 上記複数の合焦点から最良適合表面を計算することと、 上記最良適合表面からの各合焦点の距離を決定することと、 任意の合焦点の上記最良適合表面からの最大距離を同定することと、 上記同定された任意の合焦点の最大距離を所定のしきい値距離と比較することによって上記仮想顕微鏡スライド画像の画質を評価することを含む方法。

IPC (2)：

G02B 21/34 ,  G02B 7/28

FI (3)：

G02B21/34 ,  G02B7/11 N ,  G02B7/11 J

F-Term (4)：

2H051AA11 ,  2H051EB20 ,  2H052AE00 ,  2H052AF25

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 米国特許出願第10/798,457号の明細書。
  
• 米国特許出願第10/827,207号の明細書。