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J-GLOBAL ID：200903023726981049

光学物品の欠陥観察装置

Inventor： 折原 芳男
Applicant, Patent owner： 株式会社ルケオ
Agent (1)： 曽我部 久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993318934
Publication number (International publication number)：1995146244
Application date： Nov. 25, 1993
Publication date： Jun. 06, 1995
Summary：

【要約】【目的】光学物品の光学的欠陥の検査を容易で確実にできるようにする。【構成】両面が互いに平行な平行平面状の光学物品の光学的欠陥を観察する光学物品の欠陥観察装置であって、平行な光束を発する光源と、この光源に向き合って平行光束を受光するCCDカメラと、このCCDカメラの撮像した画像を映し出すモニタテレビと、前記光源とCCDカメラとの間に設けられ前記光学物品の画面を光束に対し直交する向きに光学物品を載置する載置部とを備えたことを特徴とする光学物品の欠陥観察装置。

Claim (excerpt)：

両面が互いに平行な平行平面状の光学物品の光学的欠陥を観察する光学物品の欠陥観察装置であって、平行な光束を発する光源と、この光源に向き合って平行光束を受光するCCDカメラと、このCCDカメラの撮像した画像を映し出すモニタテレビと、前記光源とCCDカメラとの間に設けられ前記光学物品の画面を光束に対し直交する向きに光学物品を載置する載置部とを備えたことを特徴とする光学物品の欠陥観察装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-363648
  
• 透明板の光透過特性検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-357130   Applicant：日本電気硝子株式会社
• 特開平4-363648