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J-GLOBAL ID：200903023815046760

超音波探傷方法および装置

Inventor： 後 藤 元 晴
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993320042
Publication number (International publication number)：1995174731
Application date： Dec. 20, 1993
Publication date： Jul. 14, 1995
Summary：

【要約】【目的】 回転体の超音波探傷に対して円周方向および軸方向の探傷を安定かつ精度よく実施することができるようにすること。【構成】 試験体10を回転可能に支持する回転支持装置11と、その回転支持装置11に支持された試験体の回転位置を直接検出する検出手段14と、上記試験体10の一部或は全部を接触媒質中に浸漬させる水槽13と、その接触媒質中に配設され、試験体内部の検査を行なう超音波探触子18と、試験体の回転位置信号および超音波探傷信号によって、試験体の各回転位置における超音波探傷信号データを格納するデータ格納装置33とを有する。

Claim (excerpt)：

試験体の一部或は全部を接触媒質中に浸漬させた状態で回転させ、その回転中の試験体から直接回転量を計測するとともに、接触媒質中の超音波探触子からの信号を収集し、回転位置に対応する超音波探傷データを計測することを特徴とする、超音波探傷方法。

IPC (3)：

G01N 29/04 503 ,  F01D 5/30 ,  G01N 29/10 501