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J-GLOBAL ID：200903023929942448

コンフォーカル顕微鏡

Inventor： 大木 裕史
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 佐藤 正年 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993205574
Publication number (International publication number)：1995043614
Application date： Jul. 29, 1993
Publication date： Feb. 14, 1995
Summary：

【要約】【目的】 機械的にも光学的にも負担が軽微で、且つ広い波長範囲内の検出光に対して高いセクショニング能力を有するコンフォーカル顕微鏡を得る。【構成】 光源からの光を試料面上に集光する対物光学系と、検出光を集光させる検出光学系と、前記検出光の集光点位置に設けられたピンホールと、前記ピンホールを通過した光を検出する検出手段とを有するコンフォーカル顕微鏡において、前記集光点位置に前記検出光中の特定の波長成分に対してのみ不透過となる遮光膜を配置し、この遮光膜に前記ピンホールを設けた。

Claim (excerpt)：

光源と、該光源からの光を試料面上にスポット状に集光する対物光学系と、前記試料面からの検出光を集光させる検出光学系と、前記検出光学系により集光される前記検出光の集光点位置に設けられたピンホールと、前記ピンホールを通過した検出光を検出する検出手段とを有するコンフォーカル顕微鏡において、前記集光点位置に、前記検出光中の予め定められた波長成分に対してのみ不透過となる選択性遮光膜が配置され、該選択性遮光膜上の集光点位置に前記ピンホールが設けられていることを特徴とするコンフォーカル顕微鏡。