分子材料の解析装置、分子材料の解析方法及び記憶媒体

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：國分孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000385817
Publication number (International publication number)：2002189978
Application date： Dec. 19, 2000
Publication date： Jul. 05, 2002
Summary：

【要約】【課題】分子動力学計算を用いて分子材料を解析する方法であって、分子材料のバルク特性を高精度に算出し、材料の構造を解析する。更に、分子材料の自由体積を侵入原子分子の大きさ応じて高精度に算出する。【解決手段】非結合関係にある原子間の束縛エネルギーを変動値として与え、これらの条件に基づき分子材料の構成原子全体が平衡状態に達した時の物性値を求め、この得られた物性値と初期条件として与えた物性値とを比較し、両者の差が小さくなるように束縛エネルギーを変化させる。更に、分子材料を表す単位格子を小領域に分割し、小領域から材料を構成する原子までの距離を求め、材料構成原子の大きさと侵入原子分子の大きさの和算値と比較することにより、自由体積を求める。

Claim (excerpt)：

分子動力学計算法を用いて分子材料を解析する解析装置であって、前記分子材料の構成原子の種類、位置及び当該分子材料が有する少なくとも一つの物性値を初期条件として与えるとともに、前記構成原子の中で非結合関係にある原子間の束縛エネルギーを変動値として与える機能と、前記初期条件及び前記変動値に基づき前記構成原子全体が平衡状態に達した時の物性値を求める機能と、この得られた物性値と前記初期条件として与えた物性値とを比較し、両者の差が小さくなるように前記束縛エネルギーを変化させる機能と、前記算出した物性値が前記初期条件として与えた物性値に所望の精度で一致したときの前記分子材料の分子構造及び/又は前記以外の物性値を求める機能とを有し、前記各機能の制御を行う制御処理手段を備えることを特徴とする解析装置。

IPC (3)：

G06F 19/00 110 , G06F 17/10 , G01N 23/20

FI (3)：

G06F 19/00 110 , G06F 17/10 Z , G01N 23/20

F-Term (7)：

2G001AA01 , 2G001BA18 , 2G001CA01 , 2G001KA12 , 2G001LA05 , 5B056BB00 , 5B056HH00

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