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J-GLOBAL ID:200903023981855669
免疫測定法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
社本 一夫 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997007386
Publication number (International publication number):1998206427
Application date: Jan. 20, 1997
Publication date: Aug. 07, 1998
Summary:
【要約】【課題】 大きな分子にも利用できる蛍光偏光解消度を用いる免疫測定法を提供する。【解決手段】 測定対象の抗原または抗体を含む測定試料、磁性粒子表面上に結合した測定対象の抗原または抗体に対応する抗体または抗原、ならびに、蛍光標識された抗原または抗体とを混合して抗原抗体反応させた後、磁力によって磁性粒子を固定し、蛍光偏光解消度の変化を測定することを特徴とする免疫測定法。
Claim (excerpt):
測定対象の抗原または抗体を含む測定試料、磁性粒子表面上に結合した測定対象の抗原または抗体に対応する抗体または抗原、ならびに、蛍光標識された抗原または抗体とを混合して抗原抗体反応させた後、磁力によって磁性粒子を固定し、蛍光偏光解消度の変化を測定することを特徴とする免疫測定法。
IPC (3):
G01N 33/542
, G01N 21/64
, G01N 33/553
FI (3):
G01N 33/542 A
, G01N 21/64 A
, G01N 33/553
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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