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J-GLOBAL ID:200903024033502160

環境測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 丹羽 宏之 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995066128
Publication number (International publication number):1995311169
Application date: Mar. 24, 1995
Publication date: Nov. 28, 1995
Summary:
【要約】【目的】 温度や湿度などの環境状態を測定する環境測定装置において、測定可能範囲が広く、コストダウンが可能で、また高性能,高精度が得られるようにする。【構成】 環境によって抵抗値が変化する検知素子として、温度によって抵抗値が変化するサーミスタ103と湿度によって抵抗値が変化する湿度センサ104を設け、湿度センサ104と直列にコンデンサ114,115を接続する。そして、湿度センサ104を通してコンデンサ115を充電した時の出力から該湿度センサ104の抵抗値に応じた環境(湿度)の検知信号を得る検知手段113を設ける。また、湿度センサ104に抵抗116,117を通して所定の発振出力を印加する発振回路110,111と切換スイッチ112を設け、湿度センサ104の抵抗値に応じて該湿度センサ104に印加する発振出力の周波数を切換える。
Claim (excerpt):
環境の変化に応じて抵抗値が変化する素子と、前記素子に接続された抵抗と、前記素子と前記抵抗の両端に所定周波数の矩形波を供給する矩形波発生手段と、前記素子と前記抵抗の間の電圧を検出することにより環境のレベルを測定する測定手段とを有し、前記矩形波発生手段は、第1の周波数の矩形波及び前記第1の周波数よりも低い周波数の第2の周波数の矩形波を選択的に供給することを特徴とする環境測定装置。
IPC (5):
G01N 27/04 ,  G01K 7/16 ,  G01K 7/24 ,  G01N 27/12 ,  G03G 21/00 530
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-317777   Applicant:キヤノン株式会社
  • 測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-043355   Applicant:キヤノン株式会社
  • 特開平2-298848
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