Pat

J-GLOBAL ID：200903024207512569

セラミック性状の測定方法とその装置

Inventor： 大▲崎▼ 茂芳 ,  大崎 文恵 ,  村田 邦夫
Applicant, Patent owner： 有限会社アックス ,  株式会社コーポレーションミユキ
Agent (1)： 塩入 明 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997187777
Publication number (International publication number)：1999023493
Application date： Jun. 27, 1997
Publication date： Jan. 29, 1999
Summary：

【要約】【構成】 セラミックの配向方向と複素誘電率とを測定する。焼結に伴う配向方向の変化は焼結の度合を表し、複素誘電率からマイクロ波領域での誘電損失を求める。また誘電率の分布並びに配向方向の分布から、グリーンシートの均質性を求める。【効果】 セラミックの焼結度の新たな測定方法が得られ、またグリーンシートの均質性の新たな測定方法が得られる。

Claim (excerpt)：

焼結に伴うセラミックの配向方向の変化を測定し、これからセラミックの焼結の度合を求めることを特徴とする、セラミック性状の測定方法。

FI (5)：

G01N 22/00 G ,  G01N 22/00 J ,  G01N 22/00 T ,  G01N 22/00 U ,  G01N 22/00 Y