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J-GLOBAL ID：200903024213633777

排出ガス浄化用触媒劣化検出装置

Inventor：
堂田 久代

About 堂田 久代

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中山 昌昭

About 中山 昌昭

, 
向井 弥寿夫

About 向井 弥寿夫


Applicant, Patent owner：
株式会社デンソー

About 株式会社デンソー


Agent (1)： 加古 宗男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997024697
Publication number (International publication number)：1997310612
Application date： Feb. 07, 1997
Publication date： Dec. 02, 1997
Summary：
【要約】【課題】 触媒活性化前のエミッション増加を考慮した触媒劣化検出を行うことで、触媒劣化検出精度を向上させる。【解決手段】 触媒温度TCATが150°Cを越えた後に、所定のサンプリング周期(例えば64ms)で触媒下流側の酸素センサの出力電圧VOX2の変化幅を積算して、浄化ガス成分量を反映したデータΣVを求めると共に、触媒上流側の空燃比センサで検出した空燃比(A/F)の目標A/Fからの偏差と排出ガス流量(=吸気流量Q)とを乗算してその乗算値を積算することで、触媒流入ガス成分変動のデータΣΔA/F・Qを求める(ステップ100〜160)。そして、触媒温度TCATが所定温度(例えば550°C)に達した時点で、それまで積算したΣVを、ΣΔA/F・Qに応じて設定した劣化判定値と比較して、触媒劣化の有無を判定する(ステップ180〜210)。
Claim (excerpt)：
内燃機関が始動してから該内燃機関の排気系に設置された排出ガス浄化用の触媒が所定温度に達するまでに該触媒内で浄化されるガス成分量(以下「浄化ガス成分量」という)を演算する演算手段と、前記演算手段により演算した浄化ガス成分量に基づいて前記触媒の劣化を検出する触媒劣化検出手段とを備えていることを特徴とする排出ガス浄化用触媒劣化検出装置。
IPC (6)：
F01N 3/20 ZAB ,  F01N 3/20 ,  F02D 41/14 ZAB ,  F02D 41/14 310 ,  F02D 45/00 ZAB ,  F02D 45/00 345
FI (6)：
F01N 3/20 ZAB C ,  F01N 3/20 R ,  F02D 41/14 ZAB ,  F02D 41/14 310 K ,  F02D 45/00 ZAB ,  F02D 45/00 345 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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