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J-GLOBAL ID:200903024268143345
分光光度計
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
大原 拓也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993195349
Publication number (International publication number):1995027610
Application date: Jul. 13, 1993
Publication date: Jan. 31, 1995
Summary:
【要約】【目的】 光スペクトルをより高精度に検出するとともに、装置自体の小型化を図る。【構成】 入射光をスペクトル光に分散する分散プリズム1と、そのスペクトル光を受光してその受光量に比例した検出信号を出力する受光素子12とを有する分光光度計において、受光素子12としてCCDリニアイメージセンサを用いるとともに、その周辺回路として、同イメージセンサ12にシフトパルスおよび転送パルスを供給するCCD駆動回路21と、CCDリニアイメージセンサ12の検出信号をA/D変換する信号処理回路22と、同信号処理回路22からの検出データに所定の演算を施すとともに、同検出データに基づいてCCD駆動回路21を制御する中央演算処理ユニット(CPU)24とを設ける。
Claim (excerpt):
入射光をスペクトル光に分散する分散プリズムと、そのスペクトル光を受光してその受光量に比例した検出信号を出力する受光素子とを有する分光光度計において、上記受光素子としてのCCDリニアイメージセンサと、同CCDリニアイメージセンサにシフトパルスおよび転送パルスを供給するCCD駆動回路と、上記CCDリニアイメージセンサの検出信号をA/D変換する信号処理回路と、同信号処理回路からの検出データに所定の演算を施すとともに、同検出データに基づいて上記CCD駆動回路を制御する中央演算処理ユニット(CPU)とを備えていることを特徴とする分光光度計。
IPC (2):
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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特開昭56-070431
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特開昭63-243725
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特開平4-056477
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特開平3-024427
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特開平1-250835
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分光スペクトル測定器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-065571
Applicant:日本電気株式会社
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