FEM最適解法による解析システム及び方法並びに記録媒体

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：加藤朝道
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000252544
Publication number (International publication number)：2002063220
Application date： Aug. 23, 2000
Publication date： Feb. 28, 2002
Summary：

【要約】【課題】陽解法を動解析、特に携帯電子機器の落下解析に用いると、挙動(各部の変形)および反力(衝撃力)が、実際の現象と大きくかけ離れるという問題を解消すること。【解決手段】モデルのメッシュサイズと、ヤング率と、密度とを基に、陽解法における解析時間間隔△tex、陰解法における解析時間間隔△timを比較することにより、最適解法を選択、解析する。

Claim (excerpt)：

解析対象のモデルのデータを入力し該モデルの最小メッシュサイズを検索する手段と、陰解法と陽解法との解析時間間隔を比較する手段と、陰解法により解析を行う手段と、陽解法により解析を行う手段と、を備え、前記解析時間間隔の比較結果に基づき、陰解法により解析を行うか、もしくは陽解法により解析を行う、ことを特徴とするFEM最適解法による解析システム。

IPC (2)：

G06F 17/50 612 , G06F 19/00 110

FI (2)：

G06F 17/50 612 H , G06F 19/00 110

F-Term (8)：

5B046AA07 , 5B046JA08 , 5B049BB07 , 5B049CC02 , 5B049CC31 , 5B049EE03 , 5B049EE05 , 5B049EE41

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

構造解析システムと構造解析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-016926 Applicant：株式会社日立製作所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

SX-5シリーズの流通アプリケーションソフトウェア

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