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J-GLOBAL ID：200903024469272097

質量分析計

Inventor： 田中 靖文 ,  山本 善丈 ,  永田 淳 ,  宮川 治彦 ,  広岡 恵
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994018906
Publication number (International publication number)：1995211282
Application date： Jan. 19, 1994
Publication date： Aug. 11, 1995
Summary：

【要約】主として分子イオンが生成され、フラグメントイオンが生成され難い試料イオン化法を用いる場合に、フラグメントイオンを生成させて、試料の分析情報を豊富にする。【構成】 試料イオン化部と質量分析部との間に四重極電極を配置して高周波電圧を印加し、その高周波四重極電場内に衝突ガスを導入するようにした。【作用 効果】 四重極電場はイオンの発散を抑えて効率良く質量分析部へイオンを導入する機能を果す。この四重極電場で試料イオンは衝突ガス分子と衝突して開裂反応を起し、多種のフラグメントイオンが生成される。

Claim (excerpt)：

イオン源と質量分析部との間に衝突ガスが供給される衝突室を配置し、衝突室内に四重極電極を配置して高周波電圧を印加するようにしたことを特徴とする質量分析計。

IPC (3)：

H01J 49/06 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/42

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特許第4329582号
  
• 特開昭62-264546
  
• 特開昭62-264546