Pat

J-GLOBAL ID：200903024627653974

極性変化を伴う気象レーダから降水量を推定する方法

Inventor： ムスタファ、アリ-メヘーニ ,  エステル、オブリジ ,  ジャック、ビクトル、テストウ
Applicant, Patent owner： サントル、ナショナール、ド、ラ、ルシェルシュ、シアンティフィク、(セーエヌエルエス)
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000528882
Publication number (International publication number)：2002501205
Application date： Jan. 22, 1999
Publication date： Jan. 15, 2002
Summary：

【要約】バイポーラ・レーダによる降水率を推定する方法であって、微分位相Φdpと、極性HまたはVの少なくとも一つによる減衰反射率Zを、前記レーダで、このレーダに関する経路半径rの所与の感覚[r1,r0]に渡って測定する工程と、r0における減衰の値K(r0)の推定が、このようにして測定された減衰反射率プロフィールと、r0とr1間の微分位相中の差とから決定される工程と、このように決定された減衰(の値)K(r0)の関数として、また減衰反射率プロフールZ(r)の関数としてrにおける特定減衰率の推定K(r)が、決定される工程と、降水率R(r)既知K(r)に決定される工程と、を含む種々の工程によって特徴付けられる降水率を推定する方法。

Claim (excerpt)：

バイポーラ・レーダによる降水率を推定する方法であって、微分位相Φdpと、極性HまたはVの少なくとも一つによる減衰反射率Zを、前記レーダで、このレーダに関する経路半径rの所与の間隔[r1,r0]に渡って測定する工程と、 r0における減衰の値K(r0)の推定が、このようにして測定された減衰反射率プロフィールと、r0とr1間の微分位相中の差とから決定される工程と、 このように決定された減衰(の値)K(r0)の関数として、また減衰反射率プロフィールZ(r)の関数としてrにおける特定減衰率の推定K(r)が、決定される工程と、 降水率R(r)が既知K(r)を知ることで決定される工程と、を含む種々の工程によって特徴付けられる降水率を推定する方法。

IPC (2)：

G01W 1/10 ,  G01S 13/95

FI (2)：

G01W 1/10 T ,  G01S 13/95

F-Term (6)：

5J070AB01 ,  5J070AC20 ,  5J070AD01 ,  5J070AE13 ,  5J070AH19 ,  5J070AK22