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J-GLOBAL ID：200903024631436961

発光性プリント基板上のフラックス残渣測定法

Inventor： 武末 浩人
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 舘野 千惠子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992056480
Publication number (International publication number)：1993223748
Application date： Feb. 10, 1992
Publication date： Aug. 31, 1993
Summary：

【要約】【目的】 蛍光測定によって発光性プリント基板上に残留しているフラックスの検出および定量評価を行う。【構成】 発光性プリント基板の蛍光スペクトル1を測定し、他の蛍光スペクトルに対する基準スペクトルとする。これに対し、フラックスを塗布したプリント基板の蛍光スペクトル2は励起波長の選択により該蛍光スペクトル1に対し強度の増大が認められる。例えば500nmにおけるプリント基板の蛍光スペクトル1の蛍光強度3を基準とし、500nmにおけるフラックス塗布基板の蛍光スペクトル2の蛍光強度4の増大を確認することにより残渣の存在が確認される。また、この蛍光強度3に対する蛍光強度4の増加量5から残渣の相対量を評価する。

Claim (excerpt)：

洗浄した発光性基板上のフラックス残渣を測定する方法において、可視、紫外領域の励起光を被測定基板表面に照射して生じる蛍光強度を検出し、予め測定した発光性基板の発光強度を基準とした時の前記蛍光強度の増加量から、前記被測定基板上のフラックス残渣の定量測定を行うことを特徴とする発光性プリント基板上のフラックス残渣測定法。

IPC (4)：

G01N 21/88 ,  G01N 21/64 ,  H05K 3/26 ,  H05K 3/34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭60-131409
  
• 特開平1-318944
  
• 特開昭57-070082
  
• 特開昭63-071642