陽電子消滅γ線測定方法および装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴江武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001239200
Publication number (International publication number)：2003050218
Application date： Aug. 07, 2001
Publication date： Feb. 21, 2003
Summary：

【要約】【課題】測定対象物以外で発生した陽電子消滅γ線の成分を除去することができる陽電子消滅γ線測定方法およびその装置を得る。【解決手段】測定対象物9a,9bに対して対向配置され、陽電子を放射する陽電子源1と、1と9a,9bの間を除く1と9a,9bの周囲に設置され、1及び9a,9bにおいて消滅しなかった陽電子を検出する検出器13a,13bと、1から放射された陽電子が消滅する際に発生するγ線を検出する検出器4a,4bと、4a,4bから出力される信号と4a,4bから出力される信号の同時性を判定するコインシデンスゲート10と、アンチコインシデンスゲート15とADコンバータ11a,11bにより同時性が無いと判定された場合の4a,4bから出力された検出信号を、同時性が有ると判定された場合の4a,4bから出力された検出信号と弁別して計測記憶するメモリ12を備えたもの。

Claim (excerpt)：

測定対象物に対して対向配置され、陽電子を放射する陽電子源と、該陽電子源と該測定対象物の間を除く該陽電子源と該測定対象物の周囲に該陽電子源および該測定対象物において消滅しなかった陽電子を検出する陽電子検出手段を設置し、該陽電子源から放射された陽電子が消滅する際に発生するγ線を検出するγ線検出手段を設置した状態で、前記陽電子検出手段で検出された検出信号と前記γ線検出手段から出力された検出信号の同時性の有無を判定し、同時性が無いと判定された場合の該γ線検出手段から出力された検出信号を、又同時性が有ると判定された場合の該γ線検出手段から出力された検出信号と弁別して計測することを特徴とする陽電子消滅γ線測定方法。

IPC (4)：

G01N 23/22 , G01T 1/17 , G01T 1/172 , G01T 7/00

FI (4)：

G01N 23/22 , G01T 1/17 C , G01T 1/172 , G01T 7/00 C

F-Term (22)：

2G001AA03 , 2G001BA01 , 2G001CA02 , 2G001CA03 , 2G001DA01 , 2G001DA02 , 2G001EA03 , 2G001FA01 , 2G001FA06 , 2G001FA09 , 2G001SA02 , 2G088EE29 , 2G088EE30 , 2G088FF04 , 2G088FF07 , 2G088GG21 , 2G088JJ01 , 2G088KK07 , 2G088KK11 , 2G088KK15 , 2G088KK29 , 2G088LL02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (10)

特開昭62-222646
ポジトロンECT装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-354862 Applicant：株式会社島津製作所
材料劣化度の評価方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-072979 Applicant：株式会社東芝

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Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

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