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J-GLOBAL ID:200903024648673789

磁気トンネル接合素子及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 磯野 道造
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003386883
Publication number (International publication number):2004179652
Application date: Nov. 17, 2003
Publication date: Jun. 24, 2004
Summary:
【課題】 所定厚さの磁気抵抗バッファ層をトンネル障壁層と結合させることによって均質度を向上させることにより、高MR比及び低RA値を有する高性能の磁気トンネル接合素子及びその製造方法を提供する。【解決手段】 基板11と、基板上に順に積層される固定層12,13,15、トンネル障壁層19及び、自由層21を具備する磁気トンネル接合素子において、固定層12,13,15とトンネル障壁層間19に窒化系金属よりなる磁気抵抗バッファ層17が介設され、磁気トンネル接合素子が全体的に熱処理されることによって減少した磁気接合抵抗を有する磁気トンネル接合素子及びその製造方法。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
基板と、基板上に順に積層される固定層、トンネル障壁層、及び自由層を具備する磁気トンネル接合素子において、 前記固定層と前記トンネル障壁層の間に窒化系金属よりなる磁気抵抗バッファ層が介設され、前記磁気トンネル接合素子が全体的に熱処理されることによって減少した磁気接合抵抗を有することを特徴とする磁気トンネル接合素子。
IPC (6):
H01L43/08 ,  G11B5/39 ,  H01F10/14 ,  H01F10/16 ,  H01F10/32 ,  H01L43/12
FI (6):
H01L43/08 Z ,  G11B5/39 ,  H01F10/14 ,  H01F10/16 ,  H01F10/32 ,  H01L43/12
F-Term (8):
5D034BA03 ,  5D034DA07 ,  5E049AA01 ,  5E049AA04 ,  5E049AA07 ,  5E049BA12 ,  5E049CB02 ,  5E049GC01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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